Резултати
| Title: | Stress-induced leakage currents in thin silicon dioxide films | Authors: | Pesić, Biljana  ; Vračar, Ljubomir M  ; Stojadinović, Ninoslav D ; Pecovska-Đorđević, M; Novkovski, N |
Issue Date: | 2003 | Publication: | JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS | ISSN: | 0957-4522 Journal of Materials Science: Materials in Electronics Search Idenfier |
Type: | Article | Collation: | vol. 14 br. 10/12 str. 805-807 | DOI: | 10.1023/A:1026169624327 | WoS-ID: | 000185962400065 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0242367438 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/807664 | Metadata source: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-category: | 22M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.