Резултати
| Naziv: | Stress-induced leakage currents in thin silicon dioxide films | Autori: | Pesić, Biljana  ; Vračar, Ljubomir M  ; Stojadinović, Ninoslav D ; Pecovska-Đorđević, M; Novkovski, N |
Godina: | 2003 | Publikacija: | JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS | ISSN: | 0957-4522 Journal of Materials Science: Materials in Electronics Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 14 br. 10/12 str. 805-807 | DOI: | 10.1023/A:1026169624327 | WoS-ID: | 000185962400065 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0242367438 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/807664 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.