Rezultati
| Naziv: | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Autori: | Manić, Ivica   ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2006 | Publikacija: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | ISSN: | 2159-1660  Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 639-644 | WoS-ID: | 000238839700133 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808299 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2
WEB OF SCIENCETM
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.