Резултати
| Назив: | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Аутори: | Manić, Ivica   ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2006 | Публикација: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | ISSN: | 2159-1660  Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 639-644 | WoS-ID: | 000238839700133 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808299 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
2
WEB OF SCIENCETM
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.