Rezultati
| Naziv: | Effects of positive gate bias stress on radiation response in power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S   ; Golubovic, Snezana M |
Godina: | 2002 | Publikacija: | 2002 23RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 723-726 | WoS-ID: | 000176359700152 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808362 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2
WEB OF SCIENCETM
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.