Резултати
еНаука >
Резултати >
A study of irradiation damage in commercial power MOSFETs by means of split C-V and conventional methods
| Назив: | A study of irradiation damage in commercial power MOSFETs by means of split C-V and conventional methods | Аутори: | Mileusnic, S; Zivanov, Milos B; Habas, P | Година: | 2002 | Публикација: | 2002 23RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 763-766 | WoS-ID: | 000176359700161 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808365 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
1
WEB OF SCIENCETM
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.