A study of irradiation damage in commercial power MOSFETs by means of split C-V and conventional methods

Mileusnic, S; Zivanov, Milos B; Habas, P

Rezultati

eNauka > Rezultati > A study of irradiation damage in commercial power MOSFETs by means of split C-V and conventional methods

Naziv:	A study of irradiation damage in commercial power MOSFETs by means of split C-V and conventional methods
Autori:	Mileusnic, S; Zivanov, Milos B; Habas, P
Godina:	2002
Publikacija:	2002 23RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS
Tip rezultata:	Konferencijski rad
Kolacija:	str. 763-766
WoS-ID:	000176359700161
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808365
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
WEB OF SCIENCE^TM

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.