Резултати
еНаука >
Резултати >
Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs
| Назив: | Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Аутори: | Đoric-Veljkovic, Snezana M   ; Đoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D |
Година: | 2003 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier BV | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 43 br. 9-11 str. 1455-1460 | DOI: | 10.1016/S0026-2714(03)00258-0 | WoS-ID: | 000185791500018 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0041692616 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808414 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.