Резултати

еНаука >  Резултати >  Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETs
Назив: Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETs
Аутори: Ristic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar B
Година: 2003
Публикација: APPLIED SURFACE SCIENCE
ISSN: 0169-4332 Applied Surface Science Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 220 br. 1-4 str. 181-185
DOI: 10.1016/S0169-4332(03)00818-3
WoS-ID: 000187721600023
Scopus-ID: 2-s2.0-0142248255
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/810468
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

19
SCOPUSTM
17
OpenCitations
21
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.