Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETs
Naziv: Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETs
Autori: Ristic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar B
Godina: 2003
Publikacija: APPLIED SURFACE SCIENCE
ISSN: 0169-4332 Applied Surface Science Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 220 br. 1-4 str. 181-185
DOI: 10.1016/S0169-4332(03)00818-3
WoS-ID: 000187721600023
Scopus-ID: 2-s2.0-0142248255
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/810468
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

19
SCOPUSTM
17
OpenCitations
21
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.