Резултати
еНаука >
Резултати >
Atomic-Scale Electronic Characterization of Defects in Silicon Carbide Nanowires by Electron Energy-Loss Spectroscopy
| Назив: | Atomic-Scale Electronic Characterization of Defects in Silicon Carbide Nanowires by Electron Energy-Loss Spectroscopy | Аутори: | Luna, Lunet E; Gardner, David; Radmilovic, Velimir R; Maboudian, Roya; Carraro, Carlo | Година: | 2018 | Публикација: | JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C | ISSN: | 1932-7447 Journal of Physical Chemistry. C Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 122 br. 22 str. 12047-12051 | DOI: | 10.1021/acs.jpcc.8b01661 | WoS-ID: | 000435020300050 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85046946666 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/813155 | Пројекат: | National Science Foundation [1207053] University of California Berkeley Chancellor's Fellowship NSF Graduate Research Fellowship Gates Millennium Scholarship Serbian Academy of Sciences and Art [F141] Office of Science, Office of Basic Energy Science |
Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.