Резултати

еНаука >  Резултати >  Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling
Назив: Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling
Аутори: Videnovic-Misic, Mirjana S ; Jevtic, Milan M
Година: 2008
Публикација: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 48 br. 7 str. 1008-1014
DOI: 10.1016/j.microrel.2008.04.002
WoS-ID: 000259179900009
Scopus-ID: 2-s2.0-48349112293
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/814675
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

1
SCOPUSTM
2
OpenCitations
1
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.