Резултати

eNauka >  Rezultati >  Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling
Naziv: Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling
Autori: Videnovic-Misic, Mirjana S ; Jevtic, Milan M
Godina: 2008
Publikacija: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 48 br. 7 str. 1008-1014
DOI: 10.1016/j.microrel.2008.04.002
WoS-ID: 000259179900009
Scopus-ID: 2-s2.0-48349112293
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/814675
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

1
SCOPUSTM
2
OpenCitations
1
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.