Резултати
| Назив: | New experimental evidence of latent interface-trap buildup in power VDMOSFETs | Аутори: | Jaksic, Aleksandar B; Ristic, Goran S   ; Pejovic, Momcilo M |
Година: | 2000 | Публикација: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | ISSN: | 0018-9499 IEEE Transactions on Nuclear Science Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 47 br. 3 str. 580-586 | DOI: | 10.1109/23.856483 | WoS-ID: | 000088378200018 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0034205118 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/817730 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.