Резултати

еНаука >  Резултати >  Experimental Evaluation of Circuit-Based Modeling of the NBTI Effects in Double-Gate FinFETs
Назив: Experimental Evaluation of Circuit-Based Modeling of the NBTI Effects in Double-Gate FinFETs
Аутори: Jankovic, Nebojsa D; Young, Chadwin D
Година: 2016
Публикација: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 59 str. 26-29
DOI: 10.1016/j.microrel.2015.12.042
WoS-ID: 000374803200004
Scopus-ID: 2-s2.0-84953291563
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/820407
Пројекат: Ministry of Education and Science Republic of Serbia [OI171026]
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

3
SCOPUSTM
2
OpenCitations
2
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.