Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Experimental Evaluation of Circuit-Based Modeling of the NBTI Effects in Double-Gate FinFETs
Naziv: Experimental Evaluation of Circuit-Based Modeling of the NBTI Effects in Double-Gate FinFETs
Autori: Jankovic, Nebojsa D; Young, Chadwin D
Godina: 2016
Publikacija: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 59 str. 26-29
DOI: 10.1016/j.microrel.2015.12.042
WoS-ID: 000374803200004
Scopus-ID: 2-s2.0-84953291563
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/820407
Projekat: Ministry of Education and Science Republic of Serbia [OI171026]
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

3
SCOPUSTM
2
OpenCitations
2
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.