Резултати

еНаука >  Резултати >  A model for capacitance reconstruction from measured lossy MOS capacitance-voltage characteristics
Назив: A model for capacitance reconstruction from measured lossy MOS capacitance-voltage characteristics
Аутори: Kwa, KSK; Chattopadhyay, S; Jankovic, Nebojsa D; Olsen, SH; Driscoll, LS; O'Neill, AG
Година: 2003
Публикација: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
ISSN: 0268-1242 Semiconductor Science and Technology Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 18 br. 2 str. 82-87
DOI: 10.1088/0268-1242/18/2/303
WoS-ID: 000181119400005
Scopus-ID: 2-s2.0-0037320050
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/820791
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

110
SCOPUSTM
91
OpenCitations
100
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.