Резултати
еНаука >
Резултати >
Effects of elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs
Назив: | Effects of elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M | Година: | 2001 | Публикација: | PROCEEDINGS OF THE 2001 8TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL & FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 243-248 | DOI: | 10.1109/IPFA.2001.941495 | WoS-ID: | 000171369600045 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/821945 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.