Резултати

еНаука >  Резултати >  Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS
Назив : Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS
Аутори: Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana  ; Dimitrijev, Sima
Година: 2005
Публикација: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Издавач: United Kingdom : Elsevier Ltd.
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 45 br. 1 str. 115-122
DOI: 10.1016/j.microrel.2004.09.002
WoS-ID: 000226442500014
Scopus-ID: 2-s2.0-10044269446
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/827848
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису

33
SCOPUSTM
13
OpenCitations
29
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.