Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS

Stojadinović, Ninoslav; Manić, Ivica; Davidović, Vojkan; Danković, Danijel; Đorić Veljković, Snežana; Golubović, Snežana; Dimitrijev, Sima

Rezultati

eNauka > Rezultati > Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS

Naziv :	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS
Autori:	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima
Godina:	2005
Publikacija:	Microelectronics Reliability
ISSN:	0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Izdavač:	United Kingdom : Elsevier Ltd.
Tip rezultata:	Naučni članak
Kolacija:	vol. 45 br. 1 str. 115-122
DOI:	10.1016/j.microrel.2004.09.002
WoS-ID:	000226442500014
Scopus-ID:	2-s2.0-10044269446
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/827848
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija:	22M22 - Rad u istaknutom međ. časopisu

34
SCOPUS^TM

13
OpenCitations

30
WEB OF SCIENCE^TM

Alt metrika

Dimensions

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.