Резултати
| Назив: | Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M   ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M |
Година: | 2002 | Публикација: | Microelectronics journal | ISSN: | 0026-2692 Microelectronics Journal Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier BV | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 33 br. 11 str. 899-905 | DOI: | 10.1016/S0026-2692(02)00121-0 | WoS-ID: | 000179487900005 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0036857943 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/830982 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.