Резултати
еНаука >
Резултати >
Analysis of gamma-irradiation induced degradation mechanisms in power VDMOSFETS
| Назив: | Analysis of gamma-irradiation induced degradation mechanisms in power VDMOSFETS | Аутори: | Stojadinović, N.; Golubović, S.; Đorić, S.   ; Dimitrijev, S. |
Година: | 1995 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 00262714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier BV | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 35 br. 3 str. 587-602 | DOI: | 10.1016/0026-2714(95)93077-N | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029270861 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875737 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Đorić-Veljković, Snežana | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
46
SCOPUSTM
42
OpenCitations
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.