Резултати
еНаука >
Резултати >
Separation of irradiation induced gate oxide charge and interface traps effects in power VDMOSFETs
| Назив: | Separation of irradiation induced gate oxide charge and interface traps effects in power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinović, N.; Đorić, S.   ; Davidović, V.; Golubović, S. |
Година: | 1994 | Публикација: | Electronics Letters | ISSN: | 0013-5194 Electronics Letters Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : John Wiley & Sons Inc | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 30 br. 23 str. 1992-1993 | DOI: | 10.1049/el:19941309 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0028549727 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875739 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Đorić-Veljković, Snežana | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.