Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Separation of irradiation induced gate oxide charge and interface traps effects in power VDMOSFETs
| Naziv: | Separation of irradiation induced gate oxide charge and interface traps effects in power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinović, N.; Đorić, S.   ; Davidović, V.; Golubović, S. |
Godina: | 1994 | Publikacija: | Electronics Letters | ISSN: | 0013-5194 Electronics Letters Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : John Wiley & Sons Inc | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 30 br. 23 str. 1992-1993 | DOI: | 10.1049/el:19941309 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0028549727 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875739 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Đorić-Veljković, Snežana | M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.