Резултати
| Назив: | Modeling of radiation-induced mobility degradation in MOSFETs | Аутори: | Stojadinovic, N.; Golubovic, S.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S.   ; Dimitrijev, S. |
Година: | 1997 | Публикација: | Proceedings of the International Conference on Microelectronics | Издавач: | [New York] : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Electron Devices Society | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | vol. 1 str. 355-356 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0031363287 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875784 | URL: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0031363287&partnerID=MN8TOARS | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Đorić-Veljković, Snežana | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
3
SCOPUSTM
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.