Резултати
еНаука >
Резултати >
Analysis of gamma-irradiation induced oxide charge and interface trap effects in power VDMOSFETs
| Назив: | Analysis of gamma-irradiation induced oxide charge and interface trap effects in power VDMOSFETs | Аутори: | Đoric-Veljkovic, S.   ; Davidovic, V. |
Година: | 1995 | Публикација: | Proceedings of the International Conference on Microelectronics | Издавач: | Niš : IEEE | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 0-7803-2786-1  Претражи идентификатор |
Колација: | vol. 1 str. 259-262 | DOI: | 10.1109/ICMEL.1995.500876 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029492179 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875794 | URL: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0029492179&partnerID=MN8TOARS | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Đorić-Veljković, Snežana | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.