Резултати
еНаука >
Резултати >
Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETs
| Назив: | Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Dankovic, D.; Manic, I.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S.   ; Golubovic, S.; Stojadinovic, N. |
Година: | 2008 | Публикација: | 9th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2008) | Издавач: | Institution of Engineering and Technology | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-80-01-04139-0  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 127-132 | DOI: | 10.1049/ic:20080225 | Scopus-ID: | 2-s2.0-67650529322 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875801 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Đorić-Veljković, Snežana | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.