Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETs
| Naziv: | Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETs | Autori: | Dankovic, D.; Manic, I.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S.   ; Golubovic, S.; Stojadinovic, N. |
Godina: | 2008 | Publikacija: | 9th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2008) | Izdavač: | Institution of Engineering and Technology | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-80-01-04139-0  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 127-132 | DOI: | 10.1049/ic:20080225 | Scopus-ID: | 2-s2.0-67650529322 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/875801 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Đorić-Veljković, Snežana | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.