Резултати
| Назив: | Characterisation of radiation response of 400 nm implanted gate oxide RADFETs | Аутори: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejovic, Milić ; Mohammadzadeh, Ali; Lane, William |
Година: | 2002 | Публикација: | 2002 23rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2002 - Proceedings | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 0-7803-7235-2  Претражи идентификатор |
Колација: | vol. 2 str. 727-730 | DOI: | 10.1109/MIEL.2002.1003360 | Scopus-ID: | 2-s2.0-79955755558 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881623 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
22
SCOPUSTM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.