Results
| Naziv: | Characterisation of radiation response of 400 nm implanted gate oxide RADFETs | Autori: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejovic, Milić ; Mohammadzadeh, Ali; Lane, William |
Godina: | 2002 | Publikacija: | 2002 23rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2002 - Proceedings | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 0-7803-7235-2  Pretraži identifikator |
Kolacija: | vol. 2 str. 727-730 | DOI: | 10.1109/MIEL.2002.1003360 | Scopus-ID: | 2-s2.0-79955755558 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881623 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.