Резултати
| Назив: | Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistors | Аутори: | Pejović, Momčilo  ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  |
Година: | 1995 | Публикација: | IEE Proceedings: Circuits, Devices and Systems | ISSN: | 1350-2409 IEE Proceedings: Circuits Devices and Systems Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | ISBN: | 1359-7000 ИСБН није валидан Претражи идентификатор |
Колација: | vol. 142 br. 6 str. 413-413 | DOI: | 10.1049/ip-cds:19952085 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029487355 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881625 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.