Rezultati
| Naziv: | Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistors | Autori: | Pejović, Momčilo  ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  |
Godina: | 1995 | Publikacija: | IEE Proceedings: Circuits, Devices and Systems | ISSN: | 1350-2409 IEE Proceedings: Circuits Devices and Systems Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | ISBN: | 1359-7000 ИСБН није валидан Pretraži identifikator |
Kolacija: | vol. 142 br. 6 str. 413-413 | DOI: | 10.1049/ip-cds:19952085 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029487355 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881625 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.