Post-irradiation behavior of commercial power VDMOSFETs

Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo; Ristić, Goran

Резултати

еНаука > Резултати > Post-irradiation behavior of commercial power VDMOSFETs

Назив:	Post-irradiation behavior of commercial power VDMOSFETs
Аутори:	Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran
Година:	2000
Публикација:	2000 22nd International Conference on Microelectronics, MIEL 2000 - Proceedings
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	0-7803-5235-1 Претражи идентификатор
Колација:	vol. 1 str. 343-346
DOI:	10.1109/ICMEL.2000.840585
Scopus-ID:	2-s2.0-84906827953
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881638
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

1
SCOPUS^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.