Rezultati
| Naziv: | Post-irradiation behavior of commercial power VDMOSFETs | Autori: | Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo  ; Ristić, Goran  |
Godina: | 2000 | Publikacija: | 2000 22nd International Conference on Microelectronics, MIEL 2000 - Proceedings | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 0-7803-5235-1  Pretraži identifikator |
Kolacija: | vol. 1 str. 343-346 | DOI: | 10.1109/ICMEL.2000.840585 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84906827953 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881638 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.