Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealing
Naziv: Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealing
Autori: Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran  ; Pejović, Momčilo 
Godina: 1996
Publikacija: Physica Status Solidi (A) Applied Research
ISSN: 0031-8965 Physica Status Solidi. A: Applications and Materials Science Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 155 br. 2 str. 371-379
DOI: 10.1002/pssa.2211550210
WoS-ID: A1996UW34900009
Scopus-ID: 2-s2.0-0030172959
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881643
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

8
SCOPUSTM
10
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.