Резултати
еНаука >
Резултати >
Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealing
| Назив: | Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealing | Аутори: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejović, Momčilo |
Година: | 1996 | Публикација: | Physica Status Solidi (A) Applied Research | ISSN: | 0031-8965 Physica Status Solidi. A: Applications and Materials Science Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 155 br. 2 str. 371-379 | DOI: | 10.1002/pssa.2211550210 | WoS-ID: | A1996UW34900009 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0030172959 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881643 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.