Rezultati
| Title: | Rebound effect in power VDMOSFETs due to latent interface-trap generation | Authors: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejović, Momčilo |
Issue Date: | 1995 | Publication: | Electronics Letters | ISSN: | 0013-5194 Electronics Letters Search Idenfier |
Type: | Article | Collation: | vol. 31 br. 14 str. 1198-1198 | DOI: | 10.1049/el:19950818 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029637886 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881644 | Metadata source: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-category: | Mp. category will be shown later |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.