Rezultati
| Naziv: | Rebound effect in power VDMOSFETs due to latent interface-trap generation | Autori: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejović, Momčilo |
Godina: | 1995 | Publikacija: | Electronics Letters | ISSN: | 0013-5194 Electronics Letters Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 31 br. 14 str. 1198-1198 | DOI: | 10.1049/el:19950818 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029637886 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881644 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.