Rezultati
eNauka >
Rezultati >
P-channel metal-oxide-semiconductor dosimeter fading dependencies on gate bias and oxide thickness
| Naziv: | P-channel metal-oxide-semiconductor dosimeter fading dependencies on gate bias and oxide thickness | Autori: | Ristić, Goran |
Godina: | 1995 | Publikacija: | Applied Physics Letters | ISSN: | 0003-6951 Applied Physics Letters Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 66 br. 1 str. 88-89 | DOI: | 10.1063/1.114155 | Scopus-ID: | 2-s2.0-36449000838 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881651 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.