Резултати
еНаука >
Резултати >
Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETs
| Назив: | Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETs | Аутори: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejovic, Momčilo |
Година: | 1995 | Публикација: | Proceedings of the International Semiconductor Conference, CAS | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 215-218 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029489789 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881654 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.