Резултати
eNauka >
Rezultati >
Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETs
| Naziv: | Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETs | Autori: | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran   ; Pejovic, Momčilo |
Godina: | 1995 | Publikacija: | Proceedings of the International Semiconductor Conference, CAS | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 215-218 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0029489789 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/881654 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Ristić, Goran | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.