Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress

Veljković, Sandra; Mitrović, Nikola; Đorić Veljković, Snežana; Davidović, Vojkan; Manić, Ivica; Golubović, Snežana; Danković, Danijel

Rezultati

eNauka > Rezultati > Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress

Naziv:	Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress
Autori:	Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel
Godina:	2021
Publikacija:	Advanced Ceramics and Applications IX, Belgrade, Serbia, 20-21 September 2021, p. 62
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-915627-8-6 Pretraži identifikator
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889049
URL:	http://www.serbianceramicsociety.rs/doc/aca01-10/aca9/ACA-IX-2021-Book-of-Abstracts.pdf
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.