Резултати
еНаука >
Резултати >
Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress
| Назив: | Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress | Аутори: | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel |
Година: | 2021 | Публикација: | Advanced Ceramics and Applications IX, Belgrade, Serbia, 20-21 September 2021, p. 62 | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-915627-8-6  Претражи идентификатор |
URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889049 | URL: | http://www.serbianceramicsociety.rs/doc/aca01-10/aca9/ACA-IX-2021-Book-of-Abstracts.pdf | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.