Резултати

еНаука >  Резултати >  Defect Modeling During the SLM Process for Manufacturing Microwave Devices
Назив: Defect Modeling During the SLM Process for Manufacturing Microwave Devices
Аутори: Li, Shuai; Bao, Xiue; Gugliandolo, Giovanni; Yuan, Haoyun; Li, Jinkai; Shao, Linxiang; Du, Minghe; Donato, Nicola; Marinković, Zlatica  ; Crupi, Giovanni;
Fang, Lili; Si, Liming; Sun, Houjun;
Година: 2023
Публикација: 2023 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE)
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 979-8-3503-0080-2 Претражи идентификатор
Колација: str. 412-416
DOI: 10.1109/MetroXRAINE58569.2023.10405715
Scopus-ID: 2-s2.0-85185821635
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889114
Извор метаподатака: (Preuzeto iz CrossRef-a) Marinković, Zlatica
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.