Резултати
| Naziv: | Defect Modeling During the SLM Process for Manufacturing Microwave Devices | Autori: | Li, Shuai; Bao, Xiue; Gugliandolo, Giovanni; Yuan, Haoyun; Li, Jinkai; Shao, Linxiang; Du, Minghe; Donato, Nicola; Marinković, Zlatica   ; Crupi, Giovanni; |
Godina: | 2023 | Publikacija: | 2023 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE) | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 979-8-3503-0080-2  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 412-416 | DOI: | 10.1109/MetroXRAINE58569.2023.10405715 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85185821635 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889114 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Marinković, Zlatica | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.