Резултати
еНаука >
Резултати >
Characterization of Growth and Real Structure of Nitride Based Semiconductor Devices by Use of Synchrotron Radiation
| Назив: | Characterization of Growth and Real Structure of Nitride Based Semiconductor Devices by Use of Synchrotron Radiation | Аутори: | Miljević, Bojan   |
Ментор: | Gerd Tilo Baumbach | Година: | 2012 | Издавач: | Karlsruher: Karlsruher Institut für Technologie (KIT) | Тип резултата: | Докторска дисертација | Колација: | str. 1-163 | DOI: | 10.5445/IR/1000030281 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/891558 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Miljević, Bojan | М-категорија: | 70M70 - Одбрањена докторска дисертација |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.