Резултати

еНаука >  Резултати >  Influence of As ions implantation on electrical resistivity of TiN/Ti/Si structures
Назив: Influence of As ions implantation on electrical resistivity of TiN/Ti/Si structures
Аутори: Peruško, Davor  ; Milosavljević, M.; Radović, Ivan  ; Milinović, V.; Bibić, Nataša
Година: 2002
Публикација: SPIG 2002 : 21st Summer School and International Symposium on the Physics of Ionized Gases : Contributed papers & abstracts of invited lectures, topical invited lectures, progress reports and workshop lectures
Издавач: Niš : University of Niš, Faculty of Sciences and Mathematics - Department of Physics
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 86-83481-07-7 Претражи идентификатор
Колација: str. 242-245
URI: https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12855
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/894100
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI


Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.