Резултати
еНаука >
Резултати >
Spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-bylayer polyelectrolyte deposition
| Назив: | Spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-bylayer polyelectrolyte deposition | Аутори: | Nedić, Stanko  ; Aškrabić, Sonja  ; Vasić, Borislav ; Isić, Goran ; Ralević, Uroš |
Година: | 2022 | Публикација: | International Conference on Nanosciences and Nanotechnologies (NN22) | Тип резултата: | Остало | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/903980 | URL: | https://www.nanotexnology.com/2022/images/stories/food/NN22_PROGRAM.pdf | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Nedić, Stanko | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.