Spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-bylayer polyelectrolyte deposition

Nedić, Stanko; Aškrabić, Sonja; Vasić, Borislav; Isić, Goran; Ralević, Uroš

Rezultati

eNauka > Rezultati > Spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-bylayer polyelectrolyte deposition

Naziv:	Spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-bylayer polyelectrolyte deposition
Autori:	Nedić, Stanko ; Aškrabić, Sonja ; Vasić, Borislav ; Isić, Goran ; Ralević, Uroš
Godina:	2022
Publikacija:	International Conference on Nanosciences and Nanotechnologies (NN22)
Tip rezultata:	Ostalo
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/903980
URL:	https://www.nanotexnology.com/2022/images/stories/food/NN22_PROGRAM.pdf
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz ORCID-a) Nedić, Stanko
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.