Резултати
еНаука >
Резултати >
A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress
| Назив: | A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress | Аутори: | Živanović, Emilija   ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Jovanović, Igor ; Đorić Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel |
Година: | 2024 | Публикација: | Micromachines | ISSN: | 2072-666X Micromachines Претражи идентификатор |
Издавач: | MDPI | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 15 br. 4 str. 503-503 | DOI: | 10.3390/mi15040503 | WoS-ID: | 001209924900001 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85191376010 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/905124 | Пројекат: | Serbian Ministry of Science, Technological Development and Innovation | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Jovanović, Igor | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.